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异频抗干扰介质损耗测试仪
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更新时间:2020-07-08  |  阅读:426

详情介绍

产品概述:

异频抗干扰介质损耗测试仪是一种*测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

技术指标:

1、试验环境温度:10℃~30℃(LCD液晶屏应避免长时间日照)

2、相对湿度:20%~80%

3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz

4、外形尺寸:长*宽*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:18kg

6、输出功率:1.5KVA

7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)

8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法

9、测量范围:内接试验电压:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接试验电压:由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差:介质损耗(tgδ):1%±0.09% 

电容容量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%    Cx :0.1pF

工作原理:

异频抗干扰介质损耗测试仪测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。

仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法"进行测量时,可将“E"点接地;而当采用“反接法"进行测量时,可将“UH"点接地,而将E点浮空。

使用和操作:

1、使用前将仪器的接地端子可靠接地。所有人员必须远离高压才能开始测量。

2、只有当仪器的“内高压允许"键未按下时,接触仪器的后面板和测量线缆与被试品才是安全的。当仪器的“内高压允许"键按下时,蜂鸣器将鸣叫示警。

3、仪器正在测量时,严禁操作除“启/停"键外的所有按键。但可用“启/停"键退出测量状态。

4、应保持仪器后面板的清洁,不要用手触摸。如后面板有污痕,请用干布擦拭干净以保证良好的绝缘。

5、测量非接地试品(正接法)时,“Hv"端对地为高电压,测量接地试品(反接法)时,“Cx"端对地为高电压,随仪器配备的红色、兰色电缆为高压带屏蔽电缆,使用时可沿地面敷设,但必须将电缆的外屏蔽接至接地端。

6、非接地试品的测量(正接法)

7、接地试品的测量(反接法)

8、外接升压器测量方式(外接高压)

9、自激法测量(CVT  正接)

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